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半导体测试技术题库 - 刷刷题
半导体测试技术题库
题数
42
考试分类
电子与通信技术>半导体测试技术
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简介
电子与通信技术-半导体测试技术
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题目预览(可预览10题)
【简答题】
[1/42]数字电路测试的流程。
参考答案:

⑴先阅读被检器件的使用手册,根据手册上的动、静态参数编写测试程序;
⑵根据送测单位的测试流程单给出的测试设备选择设备;
⑶如果被检器件没有自带程序,就无需给器件写程序,直接选择设备测试,如果被检器件有自带程序,就需写入程序,再进行测试,最后再擦除程序即可。需注意的是,对于有窗口的芯片,必须使用紫外线擦除程序。

参考解析:
【简答题】
[2/42][名词解释] TSMC
参考答案:

台积电,全球最大的专业集成电路制造服务公司,拥有两座先进的十二寸晶圆厂、四座八寸晶圆厂和一座六寸晶圆厂,总部在台湾。

参考解析:
【简答题】
[3/42]IDD静态电流测试方法。
参考答案:

1、运行一定的测试向量将器件进入低功耗状态;
2、器件保持在低功耗装态下,测量流入VDD的电流;
3、将测量值与spec中定义的参数对比,判断测试通过与否。

参考解析:
【简答题】
[4/42]基本注意事项。
参考答案:

⑴安全:生产加工过程中不需要注意防火、防电、防事故,保证人身、设备和器件的安全。
⑵保密:每个公司都有自己的核心技术或根据生产加工的产品用途不同有不同的保密等级,员工要遵守公司的保密协议,加强保密意识,不外泄公司的重要信息。

参考解析:
【简答题】
[5/42][名词解释] TexasInstruments
参考答案:

简称TI,德州仪器,全球领先的数字信号处理与模拟技术半导体供应商。总部位于美国得克萨斯州的达拉斯。

参考解析:
【简答题】
[6/42]静电的产生。
参考答案:

静电的产生有多种,这里主要讲述与电子制程紧密相关的接触起电、感应起电、剥离起电、摩擦起电;其它如:粉体带电、液体静电、气体带电、飞沫带电、喷出带电在此不进行讲述。
⑴接触起电:当两种物质接触时,其间距小于2.5×10-8cm时在其间即发生电子的转移,界面两侧出现大小相等,符号相反的两种电荷;
⑵感应起电:它是导体在外部静电场作用下,在不同部位表面感应出不同符号的电荷;
⑶剥离起电:两个接触非常紧密的物质,在外力作用下突然分开,由于剥离的原因使物体带电;
⑷摩擦起电:由于摩擦生热,热使离子(电子)的活性增加,容易向其他物体转移。

参考解析:
【简答题】
[7/42]Open-short串行静态测试方法优缺点。
参考答案:

优点
当一个失效(failure)发生时,其准确的电压测量值会被数据记录(datalog)显示出来,不管它是Open引起还是Short导致。
缺点
要求测试系统对DUT的每个管脚都有相应的独立的DC测试单元。对于拥有PerPinPMU结构的测试系统来说,这个缺点就不存在了。

参考解析:
【简答题】
[8/42][名词解释] SMIC
参考答案:

中芯国际,总部位于上海,是中国内地规模最大、技术最先进的集成电路芯片制造企业。主要业务是根据客户本身或第三者的集成电路设计为客户制造集成电路芯片。目前公司的绝大多数高管为台湾籍。

参考解析:
【简答题】
[9/42]IIL串行测试方法。
参考答案:

1、电源端施加VDDmax;
2、所有的输入管脚施加VIH预置为逻辑1状态;
3、对待测管脚施加低电平(VSS);
4、测量待测管脚的电流,并与器件spec中定义的IIL最大值进行比较;
5、重复直到所有的输入管脚均完成测试。

参考解析:
【简答题】
[10/42]VOH/IOH静态测试方法。
参考答案:

1、器件的所有输出管脚预置为逻辑高状态;
2、对待测的输出管脚施加spec上指定的电流IOH(拉电流);
3、测量待测输出管脚的电压;
4、和spec上VOH的最小值比较,比最小值小,则器件fail;
5、重复此过程,测量其他输出管脚。

参考解析:
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