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【判断题】
一般说来,当势垒区较宽时,即杂质浓度 或杂质浓度梯度 a 较小时,容易发生齐纳击穿。反之,则容易发生雪崩击穿。
A.
正确
B.
错误
题目标签:
齐纳击穿
杂质浓度
雪崩击穿
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参考答案:
举一反三
【判断题】实际的PN结,P区和N区杂质浓度相等。 ( )
A.
正确
B.
错误
查看完整题目与答案
【判断题】PN结的可逆击穿包括雪崩击穿和齐纳击穿
A.
正确
B.
错误
查看完整题目与答案
【单选题】当活性污泥或化学污泥等杂质浓度大于()mg/L时,将出现成区沉降。
A.
200—500
B.
500—1000
C.
750—1000
D.
1000—2000
查看完整题目与答案
【判断题】当扩散电阻的表面杂质浓度增加时,压阻系数增加。
A.
正确
B.
错误
查看完整题目与答案
【简答题】何谓PN结的击穿特性?雪崩击穿和齐纳击穿各有何特点?
查看完整题目与答案
【单选题】PN结击穿类型中,( )是不可逆的。(A.电击穿;B.雪崩击穿;C.齐纳击穿;D.热击穿)
A.
电击穿
B.
雪崩击穿
C.
齐纳击穿
D.
热击穿
查看完整题目与答案
【判断题】对于BJT而言,正偏的p-n结在电场达到某个临界电场时会发生雪崩击穿。
A.
正确
B.
错误
查看完整题目与答案
【判断题】对于一个刚刚雪崩击穿后的二极管来说,只要电源电压保持固定,一般情况下,管子是不会烧坏的。
A.
正确
B.
错误
查看完整题目与答案
【单选题】相同施主杂质浓度( N D =1x10 16 cm -3 )的半导体硅和锗,室温时 _________ 。
A.
硅中的电子浓度远大于锗
B.
硅中的电子浓度远小于锗
C.
硅中的空穴浓度远大于锗
D.
硅中的空穴浓度远小于锗
查看完整题目与答案
【判断题】二极管的反向击穿可以分为雪崩击穿和齐纳击穿,这两种击穿发生后,反向电流将随着电压的变化而陡峭增加,断开电源后,这两种击穿可以恢复
A.
正确
B.
错误
查看完整题目与答案
【判断题】PN结雪崩倍增因子M→1时,PN结发生雪崩击穿。
A.
正确
B.
错误
查看完整题目与答案
【简答题】简述PN结反向击穿的原理(雪崩效应、齐纳击穿、热电击穿)
查看完整题目与答案
半导体物理考试题目
【单选题】雪崩击穿计算击穿场强的理论是
A.
电击穿理论
B.
二十代理论
C.
四十代理论
D.
seitaz 理论
查看完整题目与答案
【简答题】二极管在击穿时,按照击穿原理分类,可以分为齐纳击穿型和型
查看完整题目与答案
【判断题】一般说来,当势垒区较宽时,即杂质浓度【图片】或杂质浓度梯度a较小时,容易发生齐纳击穿。反之,则容易发生雪崩击穿。
A.
正确
B.
错误
查看完整题目与答案
【简答题】硅中受主杂质浓度为1017cm-3,计算在300K下的载流子浓度n0和p0。
查看完整题目与答案
【简答题】砷化镓中施主杂质浓度为1016cm-3,分别计算T=300K、400K的电阻率和电导率。
查看完整题目与答案
【单选题】当扩散电阻的表面杂质浓度增加时,压阻系数?
A.
增加
B.
减小
C.
不变
D.
不定
查看完整题目与答案
【简答题】PN结有两种击穿方式,分别为雪崩击穿和____
查看完整题目与答案
【单选题】离子注入层的杂质浓度主要取决于离子注入的()。
A.
能量
B.
剂量
查看完整题目与答案
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A.
正确
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A.
正确
B.
错误
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A.
200—500
B.
500—1000
C.
750—1000
D.
1000—2000
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A.
正确
B.
错误
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【单选题】PN结击穿类型中,( )是不可逆的。(A.电击穿;B.雪崩击穿;C.齐纳击穿;D.热击穿)
A.
电击穿
B.
雪崩击穿
C.
齐纳击穿
D.
热击穿
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A.
正确
B.
错误
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A.
正确
B.
错误
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A.
硅中的电子浓度远大于锗
B.
硅中的电子浓度远小于锗
C.
硅中的空穴浓度远大于锗
D.
硅中的空穴浓度远小于锗
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A.
正确
B.
错误
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【判断题】PN结雪崩倍增因子M→1时,PN结发生雪崩击穿。
A.
正确
B.
错误
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半导体物理考试题目
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A.
电击穿理论
B.
二十代理论
C.
四十代理论
D.
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【判断题】一般说来,当势垒区较宽时,即杂质浓度【图片】或杂质浓度梯度a较小时,容易发生齐纳击穿。反之,则容易发生雪崩击穿。
A.
正确
B.
错误
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【简答题】砷化镓中施主杂质浓度为1016cm-3,分别计算T=300K、400K的电阻率和电导率。
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【单选题】当扩散电阻的表面杂质浓度增加时,压阻系数?
A.
增加
B.
减小
C.
不变
D.
不定
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【单选题】离子注入层的杂质浓度主要取决于离子注入的()。
A.
能量
B.
剂量
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