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【多选题】
X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差。
A.
粒度效应
B.
吸收
C.
增强
D.
矿物效应
题目标签:
荧光分析
射线荧光分析
分析误差
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参考答案:
举一反三
【填空题】分析误差来源尽量做到()、()和抓住主要误差。
查看完整题目与答案
综合计量工综合练习考试题目
【简答题】利用物质的______进行成分分析的方法称为X射线荧光分析法。
查看完整题目与答案
【简答题】误差椭圆在分析误差时有何应用?
查看完整题目与答案
【简答题】粗笨的分析误差,粗笨180前馏出量,通一实验室部得超过(),不同实验室不得超过()。
查看完整题目与答案
【多选题】工作分析误差的产生主要原因有()
A.
员工行为变化
B.
抽样完全
C.
模式混乱
D.
工作环境变化
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人力资源管理综合练习考试题目
【多选题】工作分析误差的产生主要原因有()
A.
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B.
抽样完全
C.
模式混乱
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【多选题】在X射线荧光分析中,一个理想的待测固体试样应满足()
A.
有代表性
B.
试样均匀
C.
表面平整、光洁、无裂纹
D.
试样有足够厚度,不变形
查看完整题目与答案
化学分析工综合练习考试题目
【单选题】X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素。
A.
气体
B.
惰性
C.
分析
D.
氧化性
查看完整题目与答案
【单选题】在X射线荧光分析中,重元素谱线复杂而且较为接近,所以要选择()准直器以提高分辨率。
A.
细
B.
粗
C.
超粗
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X射线荧光光谱分析考试题目
【单选题】下列检测器不用于X射线荧光分析中的是______。
A.
正比检测器;
B.
闪烁检测器;
C.
半导体计数器;
D.
热导检测器。
查看完整题目与答案
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【多选题】工作分析误差的产生主要原因有()
A.
员工行为变化
B.
抽样完全
C.
模式混乱
D.
工作环境变化
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细
B.
粗
C.
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A.
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闪烁检测器;
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半导体计数器;
D.
热导检测器。
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