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【多选题】

在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时,分析线所受的()与样品的组成无关。

A.
均匀性
B.
粒度效应
C.
辐射
D.
吸收-增强效应
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参考答案:
举一反三

【多选题】叠加定理可用用于分析线性电路中的( )。

A.
某条支路上的电流响应
B.
某条支路上的电压响应
C.
某条支路上的功率
D.
电路的任何物理量

【多选题】全反射X射线荧光分析,有哪些应用领域?

A.
地学元素分析
B.
材料检测
C.
生物医学
D.
刑侦和考古

【单选题】()是分析线性电路的一个重要原理

A.
戴维南定理
B.
叠加原理
C.
基尔霍夫第一定律
D.
基尔霍夫第二定律

【多选题】在X射线荧光分析中,一个理想的待测固体试样应满足()

A.
有代表性
B.
试样均匀
C.
表面平整、光洁、无裂纹
D.
试样有足够厚度,不变形

【单选题】下列检测器不用于X射线荧光分析中的是______。

A.
正比检测器;
B.
闪烁检测器;
C.
半导体计数器;
D.
热导检测器。
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材料检测
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生物医学
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有代表性
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试样均匀
C.
表面平整、光洁、无裂纹
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试样有足够厚度,不变形
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A.
正比检测器;
B.
闪烁检测器;
C.
半导体计数器;
D.
热导检测器。
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