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【单选题】

关于用近场扫描光学显微术进行波导表征,下列说法错误的是[ ]

A.
可以利用收集模式近场扫描式光学显微镜实现波导中的多模干涉;
B.
可以实现对波导内部导模的无损检测;
C.
可以提供波导散射的近场表征,实现局域缺陷的检测;
D.
只能用于简单波导器件的定量表征;
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参考答案:
举一反三

【单选题】下述有关荧光显微术的技术类型的叙述,不正确的是

A.
直接法测抗原
B.
间接法测抗体
C.
补体法测抗体
D.
直接法测抗体
E.
间接法测抗原

【单选题】如果要利用近场扫描光学显微术(NSOM)研究样品的荧光特性,可以采用[ ]

A.
照明模式下的有孔探测NSOM;
B.
收集模式下的有孔探测NSOM;
C.
照明和收集模式同时的有孔探测NSOM;
D.
采集配置下的无孔探测NSOM;

【单选题】激光扫描共焦显微术的特点是能()

A.
进行光学切片
B.
进行激光切割
C.
检测自发荧光
D.
产生微分干涉差

【单选题】下述有关荧光显微术的技术类型的叙述,不正确的是

A.
直接法测抗原
B.
间接法测抗体
C.
补体法测抗体
D.
直接法测抗体
E.
间接法测抗原

【单选题】下述有关荧光显微术的技术类型的叙述,不正确的是

A.
直接法测抗原
B.
间接法测抗体
C.
补体法测抗体
D.
直接法测抗体
E.
间接法测抗原

【单选题】下述有关荧光显微术的技术类型的叙述,不正确的是

A.
直接法测抗原
B.
间接法测抗体
C.
补体法测抗体
D.
直接法测抗体
E.
间接法测抗原
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直接法测抗体
E.
间接法测抗原
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A.
照明模式下的有孔探测NSOM;
B.
收集模式下的有孔探测NSOM;
C.
照明和收集模式同时的有孔探测NSOM;
D.
采集配置下的无孔探测NSOM;
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A.
进行光学切片
B.
进行激光切割
C.
检测自发荧光
D.
产生微分干涉差
【单选题】下述有关荧光显微术的技术类型的叙述,不正确的是
A.
直接法测抗原
B.
间接法测抗体
C.
补体法测抗体
D.
直接法测抗体
E.
间接法测抗原
【单选题】下述有关荧光显微术的技术类型的叙述,不正确的是
A.
直接法测抗原
B.
间接法测抗体
C.
补体法测抗体
D.
直接法测抗体
E.
间接法测抗原
【单选题】下述有关荧光显微术的技术类型的叙述,不正确的是
A.
直接法测抗原
B.
间接法测抗体
C.
补体法测抗体
D.
直接法测抗体
E.
间接法测抗原
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