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> 射线荧光分析
"射线荧光分析"相关考试题目
1.
在X射线荧光分析中把X射线光子能量转换成电信号的装置是（）。
2.
X射线荧光分析仪是利用射线轰击样品，测量所产生的()，以确定样品中元素的种类与含量的仪器。
3.
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
4.
X射线荧光分析中，手触摸样品表面会引起Na、Cl等元素的严重污染。
5.
X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。
6.
用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有：（）
7.
X射线荧光分析所用的闪烁计数器由闪烁体、光导、()、及相关电路组成。
8.
X射线荧光分析原理是什么？
9.
利用物质的______进行成分分析的方法称为X射线荧光分析法。
10.
在X射线荧光分析中，增强效应和基体吸收效应______。
11.
在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）
12.
x射线荧光分析仪是利用射线轰击产品，测量产生的（），以样品中元素的种类与含量的仪器
13.
X射线荧光分析装置”Simultix14”由光谱仪主机 、样品自动交换器 、操作/数据处理单元 、热交换器等几部分组成。
14.
波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有（）、（）、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。
15.
X射线荧光分析所用的闪烁计数器由闪烁体、光导、（）、及相关电路组成。
16.
X射线荧光分析属于光致发光分析。初级(连续)X射线是由______受到电子激发产生的，次级X射线是由______激发产生的。
17.
X射线荧光分析根据激发源的不同，可分成哪几类？
18.
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
19.
X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（）
20.
全反射X射线荧光分析,有哪些应用领域?
21.
X射线荧光分析标准添加法和稀释法中，仍需要标准和校准曲线。
22.
X射线荧光分析法的特点
23.
在X射线荧光分析中，选择准直器时应在不发生（）重叠前提下，分辨率和（）之间要折中考虑，不要太强调分辨率。
24.
X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。
25.
X射线荧光分析仪必须具有哪些出厂证件和资料？（ ）
26.
何谓X射线荧光分析？
27.
在X射线荧光分析中，以LiF晶体(2d=0.402 7 nm)测定某未知试样，在2θ=14.02。出现一谱峰，可判断为下列______产生。
28.
在X射线荧光分析中把X射线光子能量转换成电信号的装置是()。
29.
能量色散X射线荧光分析仪从多道分析器得到的谱带必须经过谱处理，其中包括（）等，才能得到准确的谱峰和强度。
30.
把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
31.
在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）
32.
下列不属于能量色散型X射线荧光分析装置的特点是( )
33.
在X射线荧光分析中，影响定量的因素为______。
34.
根据激发方式的不同，X射线荧光分析仪可分为源激发和管激发两种。（ ）
35.
把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
36.
简述能量色散X射线荧光分析中的干扰因素？
37.
材料由哪些元素组成的分析工作可以通过化学分析、光谱分析、X射线荧光分析等方法来实现,这些工作称之成份分析。
38.
X射线荧光分析方法的优点是分析迅速、样品前处理简单、可分析元素范围广、工作曲线线性范围宽、谱线简单干扰少、分析样品种类多。
39.
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。
40.
X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。()
41.
【名词解释】质子激发X射线荧光分析
42.
X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
43.
X射线荧光分析中，多数样品的分析深度只有几到几十um。因此，样品表面的状态是造成分析误差的主要原因之一。
44.
X射线荧光分析描述X射线波长与原了序数之间关系的定律是（）。
45.
X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
46.
在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。
47.
在X射线荧光分析中，增强效应和基体吸收效应______。
48.
下列检测器不用于X射线荧光分析中的是______。
49.
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
50.
能量色散型X射线荧光分析仪（ED-XRF) ,通过标定曲线实现对元素种类的识别和元素质量分数的检测。( )
